XRF电镀层测厚仪XTU-50B

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XRF电镀层测厚仪技术指标：

1.1 分析元素范围：Cl（17）-U（92）

1.2 同时可分析多达5层镀层以上

1.3 分析厚度检出限0.01μm

1.4 多次测量重复性可达0.01μm

1.5测量时间：5s-300s

1.6 计数率：0-8000cps

XRF电镀层测厚仪工作环境要求：

2.1 环境温度要求：15℃-30℃

2.2 环境相对湿度：<70%

2.3 工作电源：交流220±5V

2.4 周围不能有强电磁干扰。


配置清单

名  称

参  数

数  量

单  位

1.硬件配置

正比接收器

/

1

pcs

W靶X射线发生器

/

1

pcs

光学准直器

φ0.05mm

φ0.1mm

φ0.2mm

φ0.5mm

可任选其中一种

1

pcs

可变焦镜头

/

1

pcs

主控板

/

1

pcs

信号放大器

/

1

pcs

分配板

/

1

pcs

高精密XY移动平台

/

1

pcs

高清工业摄像头

/

1

pcs

X射线高压板

/

1

pcs

高低压电源

/

1

pcs

2.软件配置

EFP-T镀层分析软件

/

1

套

3.计算机配置

内存

4G

1

套

硬盘

160G

显示器

19'LCD Montor

4.喷墨打印机

彩色喷墨打印机

/

1

台

5.附件

软件密码狗

/

1

pcs

网线、USB线、电源线

/

3

pcs

高压钥匙

/

2

pcs

样品测试膜

/

1

卷

Ni/Fe（5μm）标准片

/

1

pcs

Au/Ni/Cu（0.1μm/2μm）标准片

/

1

pcs

U盘（数据备份）

/

1

pcs

十二纯元素标准片

/

1

pcs

XTU-50B膜厚仪测试仪采用EFP无标样测试法，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析。? 0.05 mm  ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；准直器任意选择一种。测试面积约? 0.06 mm；具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)；

XTU-50B技术参数：

测量元素范围:Cl（17）-U（92）

涂镀层分析范围: 各种元素及有机物  EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析，

探测器/接收器:日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm2

X射线装置:升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦加强型射线管

射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器 垂直光路交换装置搭配100mm变焦镜头

样品观察功能：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960.变焦功能

对焦方式：高敏感镜头（无需增加其它辅助传感器），手动对焦

仪器尺寸：外部尺寸540mm*430mm*475mm

样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）

样品移动方式;高精密XY手动滑轨  可移动范围 40mm*50mm

电气参数:电源：交流220V 50Hz 功耗：120W（不包括计算机）

环境要求:使用时温度：10°C-40°C   存储和运输时温度：0°C-50°C  空气相对湿度：≤80%

重量:45Kg

随机标准片:十二元素片、Ni/Fe 、Au/Ni/Cu

其它附件:联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱