电镀层测厚仪XTU-50A产品介绍
电镀层测厚仪XTU-50A检测78种元素镀层、0.005um检出限、小测量面积0.002mm2、深凹槽可达90mm。磁铁表面电镀层测厚仪XTU-50A搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。
X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较,X射线测厚仪,被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关,镀层膜厚仪,而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法,具有无需对样品进行特别的化学处理、快速,方便,测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛,具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。
仪器简介
XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽20mm以上
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松自如。
应用领域
线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
手表、精密仪表制造行业
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
电镀液的金属阳离子检测
性能优势:
下照式设计:可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测,凹槽深度范围0-90mm.
微聚焦射线装置:检测面积可小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件。
高效率的接收器:即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨:快速定位样品。
EFP先进算法软件:多层多元素,甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
XTU-50A镀层测厚仪售后服务承诺
1)乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修;
2)软件升级:如有软件升级,乙方将提供升级软件,如需上门升级按技术服务条款收取相关费用;
3) 保修条款
3.1乙方对本合同销售仪器设备自验收合格之日起保修1年;
3.2保修期内,维修相关费用全免;
4) 技术服务的响应期限:提供有效的技术服务,在接到用户故障信息后,4小时内响应;如有必要,12~72个小时内派人上门维修和排除故障。
5) 非乙方产品自身故障所造成的现场技术服务(如增加测试功能和数据校正等),乙方将按技术服务条款收取相关费用。由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中,具体事例双方协商解决
项 目 | 参 数 |
测量元素范围 | Cl(17)-U(92) |
涂镀层分析范围 | P(15)-U(92)可区分检测电镀镍和化学镍 |
分析软件 | EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析 |
软件操作 | 人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误 |
X射线装置 | W靶微聚焦加强型射线管 |
准直器 | ? 0.05 mm ;? 0.1 mm;? 0.2 mm;? 0.5 mm;准直器任意选择一种 |
近测距光斑扩散度 | 9% |
测量距离 | 具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm) |
样品观察 | 1/2.5彩色CCD,变焦功能 |
对焦方式 | 高敏感镜头,手动对焦 |
放大倍数 | 光学38-46X,数字放大40-200倍 |
样品台尺寸 | 500mm*660mm |
移动方式 | 手动无滑轨 |
可移动范围 | —— |
随机标准片 | 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
其它附件 | 联想电脑一套、喷墨打印机、附件 |
深圳市美程精密电子有限公司,是一家集科学仪器研发、制造、销售为一体的现代化高新技术企业。公司创立于2009年,经过十年的艰苦奋斗和不断创新,已成长为面向国内、国际市场,拥有先进的生产、检测、试验设备,产品品种相对齐全、技术先进、服务的同行业企业。产品包括光谱仪、色谱仪、质谱仪、 X射线类、前处理设备等几大系列五十余种型号,以及上百种专用试剂和上千种配套方法,全部拥有自主知识产权, 并拥有自主品牌,广泛应用于各行各业的监督检测机构,在拥有数万家客户。
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