X荧光镀层测厚仪XTU-4C产品介绍
X荧光镀层测厚仪XTU-4C是一款不同孔径准直器自动切换的镀层测厚仪。X荧光镀层测厚仪XTU-4C性能高、价格实惠。
XTU-4C是由的研发团队，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、等制造领域
性能优势：
下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：快速定位样品。
EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
仪器规格：
外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
仪器重量 ：55kg
供电电源 ：交流220±5V
功率 ：330W
环境温度：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
手表、精密仪表制造行业
镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
电镀液的金属阳离子检测
其他样品镀层测试
