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XTU系列镀层测厚仪产品介绍

XTU系列镀层测厚仪XTU 可以非破坏性同时完成组分和厚度测试，厚度的测量范围视材料和元素而定，通常在1um-50um之间。

X射线荧光光谱法分析镀层与其常规定量分析法相比较，X射线测厚仪，被测元素的特征X射线荧光强度不仅与镀层中待测元素和基材的组成有关，镀层膜厚仪，而且与厚度直接相关。能量色散X射线荧光光谱分析相对其他分析方法，具有无需对样品进行特别的化学处理、快速，方便，测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关企业作为过程控制和检测使用。是目前应用为广泛，具有速度快、无损化以及可实现多镀层同时分析等特点。

仪器简介

       XTU系列测厚仪虽然结构紧凑，但是都有大容量的开槽设计样品腔，即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。

   搭配微聚焦射线管和先进的光路设计，以及变焦算法装置，可测试极微小和异形样品。

   检测78种元素镀层·0.005um检出限·小测量面积0.002mm2·深凹槽20mm以上

   外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都没有难度，让操作人员轻松自如。

应用领域

   线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

   镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

   手表、精密仪表制造行业

   钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

   汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

   卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

   电镀液的金属阳离子检测

性能优势：

   下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。

   无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm.

   微聚焦射线装置：检测面积可小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

   高效率的接收器：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。

   精密微型滑轨：快速定位样品。

   EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

XTU-50A镀层测厚仪售后服务承诺

1）乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；

2）软件升级：如有软件升级，乙方将提供升级软件，如需上门升级按技术服务条款收取相关费用；

3） 保修条款

3.1乙方对本合同销售仪器设备自验收合格之日起保修1年；

3.2保修期内，维修相关费用全免；

4） 技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。

5） 非乙方产品自身故障所造成的现场技术服务（如增加测试功能和数据校正等），乙方将按技术服务条款收取相关费用。由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决

深圳市美程精密电子有限公司，是一家集科学仪器研发、制造、销售为一体的现代化高新技术企业。公司创立于2009年，经过十年的艰苦奋斗和不断创新，已成长为面向国内、国际市场，拥有先进的生产、检测、试验设备，产品品种相对齐全、技术先进、服务的同行业企业。产品包括光谱仪、色谱仪、质谱仪、 X射线类、前处理设备等几大系列五十余种型号,以及上百种专用试剂和上千种配套方法，全部拥有自主知识产权, 并拥有自主品牌，广泛应用于各行各业的监督检测机构，在拥有数万家客户。

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